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光學本安認證(Opis)的重要性

# 第10期

光學本安認證(Opis)的重要性

近年來由於應用雷射科技來量測氣體的技術與產品已十分成熟,工業界也普遍接受在製程品管或安全監控需求上採用雷射氣體分析儀,雖然因其性能上的優點而被廣泛使用,但使用者將此類設備安裝在有爆炸危害可能性的區域時,通常只注意並要求電氣組件的防爆規格與等級,卻容易忽略雷射元件之光學輻射(Optical Radiation)也有相同的防爆要求。

 

目前雷射氣體分析儀多採用本質安全op is (Inherently Safe Optical Radiation)設計,以符合目前世界各國所依據的IEC 60079-28標準,在IIC T4之條件下,設備表面溫度小於135℃時,將其功率能量限制在35mW以下,以符合在Zone 0、Category 1G危害等級的環境下使用。畢竟雷射的光束能量相當集中,若使用的功率與產生溫度過高,即使僅僅只是光束通過採樣氣體,一旦量測的氣體成分中含有可燃性物質,仍會有產生爆炸危害的可能性,不可不多加注意。